SMA 公头转 SMA 公头高性能射频测试与测量电缆组件 – 采用 CFT240H26 同轴电缆

SMA 公头转 SMA 公头高性能射频测试与测量电缆组件 – 采用 CFT240H26 同轴电缆制造

SMA 公头转 SMA 公头高性能射频测试与测量电缆组件（型号 TCC35-SMSM-1M）专为高达 26.5 GHz 的稳定、可重复射频与微波性能而设计。这款 1 米长的组件采用 Mechanc 的 CFT240H26 同轴电缆制造，它是 相位稳定 67 GHz 精密测试同轴电缆 CFT240的精密相位稳定变型。该组件以高精度 SMA 公头连接器 （参考型号 SMA-JCFT240H26-1）端接，可为基于 SMA 的测试系统提供可靠的射频接口。

高达 26.5 GHz 的一致微波性能

TCC35-SMSM-1M 支持从 DC 到 26.5 GHz 的连续工作范围，可提供精确射频与微波测试所需的低反射与稳定阻抗。该组件在 1 米长度下实现 1.3 的典型驻波比与 2.93 dB 的典型插入损耗，可在实验室与生产级测量环境中实现可靠的 VNA 校准、S 参数表征与宽带信号通路验证。

面向精密测量的相位稳定 CFT240H26 结构

CFT240H26 同轴电缆经过专门设计，可在弯曲、重新布置或温度变化时保持电气完整性。它提供 ±7° 的机械相位稳定性与 ±0.07 dB 的幅度稳定性，可在反复测试循环中确保一致的测量结果。凭借紧凑的 2.4 mm 外径、24 mm 最小弯曲半径、2,000 次的弯曲寿命以及 81 % 的传播速度，该组件可在 –55 °C 至 +165 °C 的宽工作范围内支持精确的时域分析与长期的机械可靠性。

面向可重复射频连接的精密 SMA 接口

该组件的每一端均配备精密 SMA-JCFT240H26-1 公头连接器，专为低反射与严格受控的机械公差而设计。这些连接器可为 VNA、信号发生器、频谱分析仪以及自动化微波测试系统提供一致的配合性能。如需更多基于 SMA 的方案，请浏览完整的 SMA 射频电缆组件 系列。

完全符合高性能射频与微波测试要求

每根 TCC 系列电缆均经过驻波比、插入损耗、幅度稳定性与相位可重复性的完整鉴定。TCC35-SMSM-1M 按严格的 REACH 与 RoHS 标准制造，并按在严苛射频与微波实验室环境中保持可靠性的要求设计。